レーザー共焦点走査顕微鏡システムに基づく--蛍光イメージング、蛍光強度走査イメージング、蛍光寿命走査イメージング、蛍光スペクトル走査イメージング
次世代高速蛍光寿命イメージングFastFLIMシステムは、単分子レベルの感度を提供し、波長標準配置範囲:350-1050 nm、寿命範囲100 ps〜100 ms、化学、ナノメートル、エネルギー、生物などの学科方向、単分子動態、生細胞、マイクロ領域イメージング及び形態、エネルギー準位構造とエネルギー伝達特徴のメカニズム研究に用いられ、テスト速度は5 fps(512×512)に達し、1×1から4096×4096イメージング、可視化Phasor plots蛍光寿命直読半コンパスを採用し、大量蛍光寿命イメージングデータ処理は直読時代に入った、振動鏡走査はすべての時間スケールの寿命イメージングに適している。生細胞ワークステーション、温度変化テストは選択可能、
主な機能の説明:
レーザ共焦点蛍光強度イメージングLCM、
蛍光寿命イメージングFLIM、リン光寿命イメージングPLIM、
アップコンバージョン蛍光(寿命)イメージング、希土類発光(寿命)イメージング、遅延蛍光(寿命)イメージング、
蛍光波動イメージングFFS(FCS、FCCS、PCH、N&B、RICS、FLCS)、FLIM-FRETイメージング、
単一量子ドット発光(寿命)イメージング、単分子及び単分子蛍光共鳴転移イメージング、交互励起PIEイメージングを含む、
定常状態及び過渡偏光イメージング、
マイクロ領域の蛍光スペクトル収集及びスペクトルイメージング、
アンチビームテスト、
Prof. Joseph R.Lakowiczラボが選択したFLIMシステム
デジタル周波数領域技術DFD−FLIM(FastFLIM)と時間領域技術TD−FLIM(TCSPC)イメージング技術、
リアルタイム直読式による蛍光寿命の数値と変化傾向、FRET効率分布、
300 ~ 1600 nmの波長範囲検出器、2 ~ 4チャネル検出器を選択し、イメージングに使用し、FLIM-FRET;
波長干渉フリーAFMをアップグレードし、同領域形態とFLIM同期試験を実現することができる、
紫外−可視−赤外励起波長、単波長又は超連続レーザ、266 nm−1300 nmレーザオプション、PIE機能オプション、白色光レーザは選択可能である、
1光子または2光子のレーザ、